技术文章_第(3)页－广东七彩仪器设备有限公司

2022-09-18

美能达色差仪CR-400色差计CR-410数据不准怎么办数据不准可能是光源老化或者积分球有灰尘及光学部件老化造成，联系七彩仪器售后色彩色差计CR-400/410新推出的柯尼卡美能达“CR-400”、“CR-410”色彩色差计可通过测量头单体进行测量，它具有高精度、多功能的优点并且...

2022
11-21

针焰试验仪在实验前要做哪些准备针焰试验仪适用于检测电子元器件、电器件、机械部件、注塑件等电器产品的阻燃性能。本机是模拟产品内部在故障条件下所产生了小火焰，用模拟技术评定着火危险性。本试验仪燃烧箱采用静电喷漆，造型美观，耐烟、气腐蚀。时间数字显示，夹具三维可调，控制系统自动化，独立抽风，观察记录使用方便，稳定可靠。本试验就是模拟产品内部在故障条件下所产生了小火焰，用模拟技术评定着火危险性。对于小零件（或元件）灼热丝试验或水平-垂直燃烧试验方法不适合时，可引用针焰试验方法。如样品在进行灼热丝试验时起燃，则所产...
2022
11-12

正确使用差示扫描量热仪差示扫描量热仪广泛用于各种有机物、无机物、高分子材料、金属材料、半导体材料、药物、生物材料等的热性能、相转变、结晶动力学等研究。差示扫描量热仪,测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系。用于测定样品在程序控制温度下产生的热效应。使用：1.差示扫描量热仪不得使用硬物清洁样品托及实验区，以免对仪器造成不可逆损害。2.检查差示扫描量热仪所有连接是否正确，所用气体是否充足，工具是否齐全。3.试验中，若选择铝坩埚为样品皿，试验的z高温度不可超过550℃。若实验中z高温度超过550...
2022
11-1

分享热变形维卡软化试验机原理及参数热变形维卡软化试验机具有试样架自动升降功能，采用直线电机驱动具有承载能力强、运行平稳。多重安全保护装置，保证试验设备及操作人员的安全性等特征。适用于测试高分子材料的维卡软化点温度和热变形温度，作为控制质量和鉴定新品种热性能的一个指标。由高精度的位移传感器测量变形，软件自动设定升温速率，运用WINDOWS7操作系统平台，使用图形图像化的于测定热变形温度、维卡软化点温度的软件，使操作更加灵活、测量更加准确。工作原理：热塑性塑料维卡软化点温度：当匀速升温时，在标准规定的负荷条件下标...
2022
10-27

氙灯老化试验机的灯管系统是由哪些部分组成的？氙灯老化试验机采用能模拟全阳光光谱的氙灯灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。氙灯老化试验机可用于新材料的选择、改进现有材料或评估材料组成变化后耐用性的变化试验，可以很好的模拟在不同环境条件下，材料暴露在阳光下所产生的变化。老化试验机主要由外箱体、保温层、加热器、恒温铝套、不锈钢压力罐，试样盘，超压自动保护装置，不锈钢台面等组成。电气控制系统：采用智能P.I.D温控器（具有自动演算之功能）和高精度PT100热电耦传感器...
2022
10-25

热变形维卡软化试验机的测试方法有哪些？热变形维卡软化试验机是依据国际标准和国家标准而设计制造的非金属材料试验仪器，主要用于塑料、硬橡胶、尼龙、电绝缘材料、长纤维增强复合材料、高强度热固性层压材料等非金属材料的热变形温度及维卡软化点温度的测定。热变形维卡软化试验机操作方便、控制，是一种智能化高的测试仪器，采用汉字液晶显示，试验结果直观明了。采用单片机控制，PID调相输出，具有上限温度设定，试验温度达到上限温度时自动停止加热。维卡软化点适用于控制聚合物品质和作为鉴定新品种热性能的一个指标，不代表材料的使用温度。热变形...
2022
10-17

了解针焰试验仪的校准方法针焰试验仪主要用于模拟技术评定设备内部由于故障条件所造成小火焰的着火危险性的专业检测仪器。适用于电工设备及其部件和元件的着火危险性的测定，也适用于固体电器绝缘材料或其他可燃性材料的着火危险性的测定。针焰试验仪由针焰燃烧器、工作室和测温装置三部分组成。校准方法：1）外观检查：通过目测观察，试验仪外表清洁；通电后各仪表显示正常。无数字笔画缺陷；时间、气压等调节器可以正常调节。2）长度基本尺寸校准：用卷尺测量试验箱的长、宽、高通过计算，得出试验仪的容积。用数显游标卡尺测量火焰的燃烧...
2022
10-9

爱色丽色差仪eXact密度仪校准的步骤爱色丽色差仪eXact密度仪校准污渍和灰尘会严重影响校准仪板，所以应保持其清洁。建议定期清洁仪器。有关清洁校准仪板和光学元件的步骤，请参阅本手册后面的“清洁”部分。本仪器含有集成的校准仪板，必要时会自动校准。测量前需要校准时，仪器将提示您。如果仪器处于打开位置（未锁定）且之前的校准已超时，将出现这种情况。如果测量条件开关已改变，且未在该位置进行校准或校准已超时，也会出现这种情况。当爱色丽色差仪eXact密度仪校准处于打开位置（未锁定）时，校准仪板将直接位于光学元件下方。测量时...

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